耐壓絕緣材料擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀

頻率對(duì)熱擊穿有很大的影響,在一般情況下,如果其他條件不變,則E穿與 頻率w的平方根成反比,即:抗電強(qiáng)度的測量與應(yīng)用:在特定的條件下進(jìn)行,標(biāo)準(zhǔn)GB/T1408.1-2016;IEC60243-1:2013;GB/T1408.2-2016;IEC60243-2:2013;ASTM D149;GB/T1695-2005;規(guī)定了固體電工材料頻擊穿電壓,擊穿場強(qiáng),耐電壓的實(shí)驗(yàn)方法。對(duì)試樣的尺寸,電極的形狀,加壓方式等都做了規(guī)定。

3. 熱擊穿

v 熱擊穿的本質(zhì)：

™處于電場中的介質(zhì)，由于介質(zhì)損耗而受熱；

™當(dāng)外加電壓足夠高時(shí)，散熱和發(fā)熱從平衡狀態(tài)轉(zhuǎn)入非平 衡狀態(tài)；

™若發(fā)熱量比散熱量多時(shí)，熱量就在介質(zhì)內(nèi)部聚集，使介 質(zhì)溫度升高；

™溫度升高又導(dǎo)致電導(dǎo)率和損耗的進(jìn)一步增加，介質(zhì)的溫 度將越來越高，直至出現(xiàn)性破壞。

12.4測試的數(shù)量——對(duì)于特定材料，除非另有說明，否則應(yīng)進(jìn)行5次擊穿。選擇連續(xù)升壓設(shè)置方法：

如是50KV電壓擊穿,使用量程“50", 如是100KV電壓擊穿, 使用量程“100"，保護(hù)電流“5"，電極尺寸“75×25"或“25×25"，峰降電壓,根據(jù)試樣擊穿電壓大小設(shè)置,如低于5KV,可設(shè)1KV以下。

逐級(jí)升壓設(shè)置方法：

設(shè)置初始電壓如“5"梯度電壓如“5"，梯度時(shí)間可根據(jù)具體要求設(shè)置，其他設(shè)置與連續(xù)升壓設(shè)置一樣。

慢速升壓設(shè)置方法：

   設(shè)置和連續(xù)升壓設(shè)置是一樣的，不一樣就是多個(gè)初始電壓，如設(shè)“5"就是在5KV以下不出曲線，電壓升到5KV時(shí)才出曲線。

耐壓升壓設(shè)置方法：

  設(shè)置和逐級(jí)升壓設(shè)置是一樣的，初始電壓就是給試樣施加的電壓（根據(jù)要求添加），梯度時(shí)間就是給試樣施加電壓，在設(shè)定時(shí)間（根據(jù)要求設(shè)置）內(nèi)，不擊穿為合格。

4、做實(shí)驗(yàn)

油盒里注入25#變壓器油，漫過上電極15～20mm，放入試樣，關(guān)閉門，此時(shí)門位指示燈亮，按下高壓啟動(dòng)此時(shí)綠燈亮，

電腦上輸入試樣厚度，選擇升壓速率50KV 0.2～2kv/s，100KV 0.5～10kv/s，任意選，

點(diǎn)擊參數(shù)設(shè)置，選擇實(shí)驗(yàn)方法，保存參數(shù)設(shè)置，點(diǎn)擊實(shí)驗(yàn)準(zhǔn)備一確定一開始實(shí)驗(yàn)，此時(shí)實(shí)驗(yàn)開始，直到試樣擊穿,步進(jìn)電機(jī)歸零，啟點(diǎn)指示燈亮，實(shí)驗(yàn)結(jié)束，此時(shí)電腦顯示的是試樣擊穿跌落值，數(shù)據(jù)表格里顯示是實(shí)際值，點(diǎn)擊序號(hào)2，可做下個(gè)試樣，一種試樣可做10個(gè)，做完實(shí)驗(yàn)點(diǎn)擊左上角保存，

點(diǎn)擊曲線分析，看實(shí)驗(yàn)結(jié)果，點(diǎn)擊Word轉(zhuǎn)換成Word報(bào)告，點(diǎn)擊Excel轉(zhuǎn)換成Excel各點(diǎn)數(shù)據(jù)。

做直流實(shí)驗(yàn)；

把高壓變壓器短路銷拔出來，打開軟件，雙擊交流實(shí)驗(yàn)此時(shí)直流實(shí)驗(yàn)變實(shí)，點(diǎn)擊直流實(shí)驗(yàn)此時(shí)是做直流實(shí)驗(yàn)，其它設(shè)置與交流是一樣的，做完實(shí)驗(yàn)自動(dòng)放電。

ASTM D149-2009介電擊穿電壓試驗(yàn)方法

耐電壓擊穿試驗(yàn)儀

13. 計(jì)算

13.1對(duì)于每次測試而言，擊穿時(shí)的絕緣強(qiáng)度應(yīng)以kV/mm或V/mil為單位來計(jì)算，對(duì)于逐步測試而言，梯度應(yīng)以未發(fā)生擊穿的最高電壓步驟來計(jì)算。

13.2計(jì)算平均絕緣強(qiáng)度及標(biāo)準(zhǔn)偏差，或其他變量的測量值

耐電壓擊穿試驗(yàn)儀14. 報(bào)告

14.1報(bào)告應(yīng)包含以下信息：

14.1.1測試樣的鑒定。

14.1.2對(duì)每一個(gè)測試樣；

14.1.2.1所測量的厚度，

14.1.2.2能承受的最大電壓（對(duì)逐步測試而言），

14.1.2.3擊穿電壓，

14.1.2.4絕緣強(qiáng)度（對(duì)逐步測試而言），

14.1.2.5擊穿強(qiáng)度，及

14.1.2.6擊穿的部位（電極的中心，邊緣或外部）。

14.1.3對(duì)于每個(gè)樣品：

14.1.3.1平均電介質(zhì)承受強(qiáng)度（僅對(duì)逐步測試測試樣），

14.1.3.2平均電介質(zhì)擊穿強(qiáng)度，

14.1.3.3變量的說明，最好是標(biāo)準(zhǔn)偏差和變化系數(shù)。

14.1.3.4測試樣的說明，

14.1.3.5調(diào)節(jié)和測試樣的準(zhǔn)備，

14.1.3.6環(huán)境的溫度和相對(duì)濕度，

14.1.3.7環(huán)境介質(zhì)，

14.1.3.8測試溫度，

14.1.3.9電極的說明，

14.1.3.10電壓應(yīng)用的方法，

14.1.3.11如果，電流感應(yīng)元件的失效標(biāo)準(zhǔn)，及

14.1.3.12測試的日期。

ASTM D149-2009介電擊穿電壓試驗(yàn)方法

耐電壓擊穿試驗(yàn)儀

15. 精度和偏差

15.1表2總結(jié)了四個(gè)實(shí)驗(yàn)室和八種材料實(shí)驗(yàn)室間研究的結(jié)果。該研究采用同一電極體系和同一測試介質(zhì)。9

15.2單一操作員精度——根據(jù)測試材料，試樣厚度，電壓供給方式以及控制或抑制瞬間電壓脈沖的極限，變化常數(shù)（標(biāo)準(zhǔn)差除以平均值）在1%到20％之間變化。如果就同一樣品的五個(gè)測試樣進(jìn)行重復(fù)試驗(yàn)，變化常數(shù)通常不大于9%。

表2 從四個(gè)試驗(yàn)室總結(jié)出的絕緣強(qiáng)度數(shù)據(jù)A

A測試樣在油中用2型電極進(jìn)行測試（參見表1）。

15.3多實(shí)驗(yàn)室精度——在不同實(shí)驗(yàn)室中（或者同一實(shí)驗(yàn)室不同設(shè)備上）進(jìn)行測試的精度是變化的。通過使用同一類型的設(shè)備，嚴(yán)格控制測試樣的準(zhǔn)備，電極以及測試流程，單個(gè)操作員的精度是近似的。但如果對(duì)來自不同實(shí)驗(yàn)室的結(jié)果進(jìn)行比較，就必須評(píng)估不同實(shí)驗(yàn)室的精度。

9支撐數(shù)據(jù)已經(jīng)歸檔在ASTM國際總部中，通過申請(qǐng)研究報(bào)告RR:D09-1026可獲得這些數(shù)據(jù)。

15.4如果測試材料，試樣厚度，電極結(jié)構(gòu)，或環(huán)境介質(zhì)不同于表1所列，或是測試設(shè)備中電流感應(yīng)元件的擊穿標(biāo)準(zhǔn)得不到嚴(yán)格控制，那么將無法達(dá)到15.2和15.3中所規(guī)定的精度，對(duì)于需要測試的材料來說，涉及本測試方法的標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)能確定該材料的精度適用范圍。參見5.4~5.8以及6.1.6。

15.5使用特殊的技術(shù)和設(shè)備、使材料厚度的精度達(dá)到0.01in甚至更小。電極不能損壞試樣的接觸面。準(zhǔn)確的測定擊穿電壓。

15.6偏差——該測試方法不能測定固有絕緣強(qiáng)度。測試結(jié)果取決于試樣的幾何形狀，電極和其他可變參數(shù)，以及樣品的性質(zhì)，這使得很難描述偏差。

耐電壓擊穿試驗(yàn)儀

16. 關(guān)鍵詞

16.1擊穿，擊穿電壓，校準(zhǔn)，擊穿標(biāo)淮，介電擊穿電壓，介電失效，介電強(qiáng)度，電極，閃絡(luò)，電源頻率，過程控制測試，驗(yàn)證測試，質(zhì)量控制測試，快速增加，研究測試，取樣，慢速，逐步，環(huán)境介質(zhì)，耐壓。

附錄

（非強(qiáng)制信息）

Xl. 絕緣強(qiáng)度測試的意義

X1.1 介紹

簡要回顧了擊穿的三種假定機(jī)制，分別是：（1）放電或電暈機(jī)制，（2）熱機(jī)制，以及（3）固有機(jī)制，討論了在原理上對(duì)實(shí)際電介質(zhì)產(chǎn)生影響的因素，并對(duì)數(shù)據(jù)的解釋提供幫助。擊穿機(jī)制常常與其他機(jī)制相結(jié)合，而非單獨(dú)發(fā)揮效用。隨后的討論僅針對(duì)固體和半固體材料。介電擊穿的假定機(jī)制由放電造成的擊穿——在對(duì)工業(yè)材料進(jìn)行的許多測試中，都是由于放電造成了擊穿，這通常造成較高的局部場。對(duì)于固體材料來說，放電常常發(fā)生在環(huán)境介質(zhì)中，因此增加測試的區(qū)域?qū)⒃陔姌O邊緣上或外側(cè)產(chǎn)生擊穿。放電也會(huì)發(fā)生在內(nèi)部出現(xiàn)或生成的一些泡沫或氣泡里。這會(huì)造成局部的侵蝕或化學(xué)分解。這些過程將一直持續(xù)到在電極間形成的失效通路為止。熱擊穿——在置于高強(qiáng)度電場時(shí)，在許多材料內(nèi)的局部路徑上會(huì)積聚大量的熱，這將造成電介質(zhì)和離子導(dǎo)電性能的損失，進(jìn)而迅速產(chǎn)生熱量，所產(chǎn)生的熱量將大于所能耗散掉的熱量。由于材料的熱不穩(wěn)定性，導(dǎo)致了擊穿的發(fā)生。

固有擊穿——如果放電或熱穩(wěn)定性都不能造成擊穿，那么在電場強(qiáng)度大到足以加速電子穿過材料時(shí)，仍將發(fā)生擊穿。標(biāo)準(zhǔn)電場強(qiáng)度被稱為固有絕緣強(qiáng)度。雖然機(jī)制本身也許已經(jīng)涉及，但本測試法仍不能測試固有絕緣強(qiáng)度。絕緣材料的性質(zhì)固態(tài)工業(yè)絕緣材料通常是非均勻的，且含有許多不同的電介質(zhì)缺陷。試樣上常常發(fā)生擊穿的區(qū)域，并不是那些電場強(qiáng)度最大的區(qū)域，有時(shí)甚至是那些遠(yuǎn)離電極的區(qū)域。在應(yīng)力下卷中的薄弱環(huán)節(jié)有時(shí)將決定測試的結(jié)果。 測試和測試樣狀況的影響因素——通常，隨著電極區(qū)域的增加，擊穿電壓會(huì)降低，這種影響對(duì)于薄試樣來說更為明顯。電極的幾何形狀也會(huì)影響測試的結(jié)果。制作電極的材料也會(huì)對(duì)測試結(jié)果產(chǎn)生影響，這是因?yàn)殡姌O材料的熱導(dǎo)性和功函會(huì)對(duì)熱機(jī)制和發(fā)電機(jī)制產(chǎn)生影響。通常來說，由于缺乏相關(guān)的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)，所以很難確定電極材料的影響。試樣厚度——固體工業(yè)絕緣材料的絕緣強(qiáng)度主要取決于試樣的厚度。經(jīng)驗(yàn)顯示，對(duì)于固體和半固體材料來說，絕緣強(qiáng)度與以試樣厚度為分母的分?jǐn)?shù)成反比，更多的證據(jù)顯示，對(duì)于相對(duì)均勻的固體來說，絕緣強(qiáng)度與厚度的平方根互為倒數(shù)。如果固體試樣能熔化后倒入到固定電極之間并凝固下來，那么電極間距的影響將很難得到明確的定義。因?yàn)樵谶@種情況下，可以隨意固定電極間距，所以習(xí)慣在液體或可溶固體中進(jìn)行絕緣強(qiáng)度測試，此時(shí)電極間具有標(biāo)準(zhǔn)的固定空間。因?yàn)榻^緣強(qiáng)度取決于厚度，所以如果在報(bào)告絕緣強(qiáng)度數(shù)據(jù)時(shí)缺乏測試所用試樣的起始厚度，那么這樣的數(shù)據(jù)將毫無意義。

溫度——試樣和環(huán)境介質(zhì)的溫度將影響絕緣強(qiáng)度，雖然對(duì)于大多數(shù)材料來說，微小的環(huán)境溫度變化對(duì)材料造成影響可以忽略不計(jì)。通常，絕緣強(qiáng)度隨溫度的升高而降低，但其強(qiáng)度的極限取決于被測材料。，由于材料需要室溫以外的條件下發(fā)揮作用，所以有必要在比期望操作溫度更大的范圍里，對(duì)絕緣強(qiáng)度與溫度的關(guān)系進(jìn)行確定。時(shí)間——電壓應(yīng)用的速率也會(huì)影響測試結(jié)果。通常，擊穿電壓隨電壓應(yīng)用速率的增加而提高。這是預(yù)料之中的，因?yàn)闊釗舸C(jī)制有賴于時(shí)間，而放電機(jī)制也有賴于時(shí)間，雖然在一些情況下，后一種機(jī)制通過產(chǎn)生局部電場高臨界強(qiáng)度造成快速失效波形——通常，應(yīng)用電壓的波形也會(huì)影響絕緣強(qiáng)度。在本測試方法的限制說明中，波形的影響是不顯著的。頻率——對(duì)于本測試法，在工業(yè)用電頻率范圍內(nèi)，頻率的變化對(duì)絕緣強(qiáng)度的影響將不是那么顯著。但是，不能從本測試法所得結(jié)果中推斷出其他非工業(yè)用電頻率（50到60HHz）對(duì)絕緣強(qiáng)度的影響。

X1.4.7環(huán)境介質(zhì)——通常測試具有高擊穿電壓的固體絕緣材料，是將試樣浸入到液體介質(zhì)中，例如變壓器油，硅油，或是氟利昂中，以減小擊穿前表面放電的影響。這已經(jīng)由S.Whitehead10所揭示，為了避免固體試樣在達(dá)到擊穿電壓前在環(huán)境介質(zhì)中發(fā)生放電現(xiàn)象，在交流電測試中，有必要確保：

（X1.1）

如果浸入的液體介質(zhì)是一種低損耗材料，該公式可以簡化為：

（X1.2）

如果浸入的液體介質(zhì)是一種半導(dǎo)體材料，那么該公式可以變?yōu)椋?/p>

（X1.3）

式中：

E=絕緣強(qiáng)度；

f=頻率；

ε和ε′=介電常數(shù)；

D=耗散因數(shù)；

o=電導(dǎo)率（S/m）；

下標(biāo)：

m指浸入介質(zhì)；

r指相對(duì)值；

O指自由空間；

（εO=8.854×10-12F/m）

s指固體電介質(zhì)。

X1.4.7.1Whitehead指出，要避免表面放電，則應(yīng)提高Em和εm或是提高σm。通常規(guī)定使用變壓器油，其介電性能是這樣的，如果電場強(qiáng)度Es達(dá)到以下水平，則會(huì)發(fā)生邊緣擊穿：

（X1.4）

如果測試樣很厚，且其介電常數(shù)很小，那么含有ts的量將成為相對(duì)影響因數(shù)，介電常數(shù)與電場強(qiáng)度的乘積將近似于一個(gè)常數(shù)。11Whitehead也指出（p. 261）使用潮濕的半導(dǎo)體油將能有效減少邊緣放電的現(xiàn)象。如果電極間的擊穿路徑僅在固體中出現(xiàn)，那么此介質(zhì)將不能與其他介質(zhì)進(jìn)行比較。也應(yīng)該注意到如果固體是多孔的或是能夠被浸入介質(zhì)充滿，固體的擊穿強(qiáng)度將受到浸入介質(zhì)電氣性質(zhì)的直接影響。

X1.4.8相對(duì)濕度——相對(duì)濕度影響絕緣強(qiáng)度是因?yàn)闇y試材料吸收的水分或表面吸附的水分將影響介質(zhì)損耗和表面電導(dǎo)率。因此，它的重要性很大程度上有賴于測試材料的性質(zhì)。但是，即使材料只吸收了一點(diǎn)甚至沒有吸收水分，仍會(huì)受到影響，因?yàn)樵谟兴那闆r下，將大大提高放電的化學(xué)效應(yīng)。除此之外，還應(yīng)調(diào)查暴露在電場強(qiáng)度中的影響，通常通過標(biāo)準(zhǔn)的調(diào)節(jié)流程來控制或限制相對(duì)濕度的影響。

10文獻(xiàn)：Whitehead, S., 固體介電擊穿, Oxford University Press, 1951.

X1.5 評(píng)估

X1.5.1通電設(shè)備絕緣的一個(gè)基本要求就是它應(yīng)能承受得住在服務(wù)中施加于它的電壓。因此很有必要對(duì)測試進(jìn)行評(píng)價(jià)，以評(píng)價(jià)處于高壓應(yīng)力條件下的材料性能。介質(zhì)擊穿電壓測試是一種測定材料是否需要進(jìn)一步考察的初步測試，但是它無法就兩個(gè)重要方面進(jìn)行全部評(píng)估。首先，安裝在設(shè)備上的材料條件與測試條件大為不同，尤其在考慮了電場結(jié)構(gòu)和暴露在電場中的材料面積，電暈，機(jī)械應(yīng)力，周圍介質(zhì)以及與其他材料的連接之后，更是如此。第二，在服務(wù)時(shí)，會(huì)出現(xiàn)很多惡劣的影響，例如熱，機(jī)械應(yīng)力，電暈及其產(chǎn)物，污染物等等，都會(huì)使擊穿電壓遠(yuǎn)低于最初安裝時(shí)的擊穿電壓值。在實(shí)驗(yàn)室測試中，可以合并其中的一些影響，進(jìn)而對(duì)該材料做出更準(zhǔn)確的估計(jì)，但是最終考察的仍然是那些處于實(shí)際服務(wù)的材料性質(zhì)。

X1.5.2介質(zhì)擊穿測試能作為材料檢測或是質(zhì)量控制測試，作為一種推測其他條件的手段，例如變率，或是指明惡化的過程，如熱老化。在使用本測試法時(shí)，擊穿電壓的相對(duì)值比絕對(duì)值更重要。

X2. D149測試法所涉及的標(biāo)準(zhǔn)

X2.1 介紹

X2.1.1本附錄所提供的文件目錄將涉及到大量的ASTM標(biāo)準(zhǔn)，這些標(biāo)準(zhǔn)都與在電源頻率下電介質(zhì)強(qiáng)度的測定有關(guān)，或與測試設(shè)備元件或用于測定該性質(zhì)的元件有關(guān)。雖然我們竭盡全力，力圖將所有涉及D149測試法的標(biāo)準(zhǔn)都包含進(jìn)來，但是該清單仍是不的，在本附錄出版之后編寫或修改的標(biāo)準(zhǔn)都未能包含進(jìn)來。

X2.1.2在一些標(biāo)準(zhǔn)中要用D149測試法測定介質(zhì)強(qiáng)度或擊穿電壓，但是其參考本測試法的方式不一定符合5.5的要求。除非該文件與5.5相一致，否則不用使用其他文件，包括本目錄所列的文件，來作為本測試法的參考。

ASTM D149-2009介電擊穿電壓試驗(yàn)方法

表X2.1 試驗(yàn)方法D149引用的ASTM標(biāo)準(zhǔn)

十四、報(bào)告

除非另有規(guī)定，報(bào)告應(yīng)包括如下內(nèi)容

a) 介電擊穿測試儀（介電擊穿試驗(yàn)）被試材料的全稱，試樣及其制備方法的說明；

b) 介電擊穿測試儀（介電擊穿試驗(yàn)）電氣強(qiáng)度的中值<以kV/mm表示>或擊穿電壓的中值（以kV表示）；

c) 介電擊穿測試儀（介電擊穿試驗(yàn)）每個(gè)試樣的厚度<見5.4)；

d) 試驗(yàn)時(shí)所用的周圍媒質(zhì)及其性能；

e) 電極系統(tǒng)；

f) 施加電壓的方式及頻率；

g) 電氣強(qiáng)度的各個(gè)值（以kV/mm表示>或擊穿電壓的各個(gè)值<以kV表示）；

h) 在空氣中或在其他氣體中試驗(yàn)時(shí)的溫度、壓力和濕度，若在液體中試驗(yàn)時(shí)周圍媒質(zhì)的溫度；

i) 試驗(yàn)前條件處理；

j）擊穿類型和位置的說明。

如果只需要簡單的結(jié)果報(bào)告，則應(yīng)該報(bào)告前6項(xiàng)內(nèi)容及低值和醉高值。

耐壓絕緣材料擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀

1、試驗(yàn)在試驗(yàn)箱中進(jìn)行，試驗(yàn)箱門打開時(shí)電源加不到高壓變壓器輸入端，即高壓側(cè)無電壓。100KV測試設(shè)備高壓電極距離試驗(yàn)箱壁的最近距離大于270mm，50KV測試設(shè)備高壓電極距離試驗(yàn)箱壁的最近距離大于250mm，試驗(yàn)時(shí)即使人接觸箱壁也不會(huì)有危險(xiǎn)。

2、設(shè)備要安裝單獨(dú)的保護(hù)地線。接保護(hù)地線，主要是減少試樣擊穿時(shí)對(duì)周圍產(chǎn)生的較強(qiáng)的電磁干擾。也可避免控制計(jì)算機(jī)失控。

3、該試驗(yàn)設(shè)備的電路設(shè)有多項(xiàng)保護(hù)措施，主要有：過流保護(hù)、過壓保護(hù)、漏電保護(hù)、短路保護(hù)、直流試驗(yàn)放電報(bào)警，電磁放電等。

4、直流試驗(yàn)放電報(bào)警功能:在設(shè)備做完直流試驗(yàn)時(shí),當(dāng)開啟試驗(yàn)門時(shí)設(shè)備會(huì)自動(dòng)報(bào)警,直至使用設(shè)備上的放電裝置放電后報(bào)警會(huì)自動(dòng)取消.(注：因?yàn)橹绷髟囼?yàn)后不放電會(huì)危險(xiǎn)到人安全,不能直接拿取電極,起到提醒使用人員放電以免造成傷害)。

5、試驗(yàn)放電裝置，電磁鐵自動(dòng)放電放置。符合標(biāo)準(zhǔn)

GB1408.1-2016《絕緣材料電氣強(qiáng)度試驗(yàn)方法?*部分;工頻下試驗(yàn)、第2部分》

GBT13542.1-2009電氣絕緣用薄膜*部分

GB/T1695-2005《硫化橡膠工頻擊穿電壓強(qiáng)度和耐電壓的測定方法》

GB/T  3333-1999《電纜紙工頻擊穿電壓試驗(yàn)方法》1 范圍

GB/T 13542的本部分規(guī)定了電氣絕緣用薄膜的定義、一般要求、尺寸、檢驗(yàn)規(guī)則和標(biāo)志、包裝、運(yùn)

輸和貯存。

本部分適用于電氣絕緣用薄膜，

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過GB/T 13542的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文

件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成

協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本

部分。

GB/T 13542.2-2009電氣絕緣用薄膜第2部分:試驗(yàn)方法(IEC60674-2:1988,MOD)

3術(shù)語和定義

下列術(shù)語和定義適用于本部分。

3.1

卷繞性windability

薄膜的卷繞性用于評(píng)定成卷薄膜的變形情況,可由偏移/弧形和凹陷兩方面衡量。

3.1.1

偏移/弧形bias-camber

當(dāng)薄膜平整地打開時(shí),其邊緣不呈直線(偏移或弧形)、

3.1.2

凹陷

sag

當(dāng)一段薄膜由兩個(gè)呈水平位置的平行輥支撐并承受一定張力的情況下,其中有部分薄膜會(huì)低于總

的水平面。接頭耐熱性或耐溶劑性等特殊要求應(yīng)由供需雙方協(xié)商。

4.4管芯

薄膜應(yīng)卷在圓形管芯上,管芯在卷繞拉伸下應(yīng)不掉屑、坍塌或歪扭,也不應(yīng)損壞薄膜或使其性能降

低。管芯的所有性能和尺寸及其偏差由供需雙方協(xié)商,管芯的優(yōu)選內(nèi)徑為76 mm和152 mm,管芯可以

伸出膜卷的端部,或者與端部平齊。

5尺寸

5.1厚度

按GB/T 13542.2-2009第4章所述的方法測定厚度,除非在產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中另有規(guī)定,且測得的厚度

應(yīng)在標(biāo)稱值±10%范圍內(nèi)。

5.2寬度

寬度應(yīng)在產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定,按GB/T 13542.22009第6章規(guī)定的方法測定的寬度，除非產(chǎn)品標(biāo)

準(zhǔn)另有規(guī)定,其允許偏差應(yīng)符合表1的規(guī)定。

表1薄膜寬度

單位為毫米

寬度

偏差

≤50

±0.5

>50~300

±1.0

>300~450

±2.0

>450

±4.0

5.3長度

對(duì)長度的要求由產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。

6檢驗(yàn)規(guī)則GB/T 13542《電氣絕緣用薄膜)分為以下幾個(gè)部分:

一第1部分:定義和一般要求;

一一第2部分:試驗(yàn)方法;

一第3部分:電容器用雙軸定向聚丙烯薄聵;

一第4部分:聚酯薄膜

.…。

本部分為GB/T13542的第1部分。

本部分修改采用IEC60674-1:1980《電氣用塑料薄膜第1部分:定義和一般要求(英文版)。

本部分與IEC60674-1的主要技術(shù)差異如下:

1)增加了“規(guī)范性引用文件"章;

2)增加了“檢驗(yàn)規(guī)則"章。

本部分代替GB/T 13542-1992《電氣用塑料薄膜一般要求》,

本部分與GB/T 13542-1992相比主要差異如下:

1)將“引用標(biāo)準(zhǔn)"改為“規(guī)范性引用文件"

2)定義3.1.1中“偏斜"改為“偏移/弧形"。

本部分由中國電器工業(yè)協(xié)會(huì)提出。

本部分由全國絕緣材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC51)歸口，

本都分起草單位:桂林電器科學(xué)研究所,東材科技集團(tuán)股份有限公司。

本部分主要起草人:王先修、趙平。

本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:

GB/T13542-1992。

6.1薄膜應(yīng)進(jìn)行出廠檢驗(yàn)和型式檢驗(yàn)。

6.2型式檢驗(yàn)項(xiàng)目為產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中技術(shù)要求規(guī)定的全部項(xiàng)目，每三個(gè)月至少進(jìn)行一次。當(dāng)原材料變更

或工藝條件改變時(shí),也應(yīng)進(jìn)行型式檢驗(yàn)。

6.3產(chǎn)品批量、抽樣方法和出廠檢驗(yàn)項(xiàng)目在產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定，每批薄膜應(yīng)進(jìn)行出廠檢驗(yàn),產(chǎn)品經(jīng)檢驗(yàn)

合格才能出廠。制造廠應(yīng)保證出廠產(chǎn)品符合產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中全部技術(shù)要求。

6.4當(dāng)試驗(yàn)結(jié)果中任何一項(xiàng)不符合技術(shù)要求時(shí),應(yīng)在該批薄膜另外二卷中各取一組試樣重復(fù)該項(xiàng)試

驗(yàn),如仍有一組不符合要求時(shí),該批薄膜為不合格品。

6.5使用單位可按產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)的全部或部分項(xiàng)目進(jìn)行驗(yàn)收檢驗(yàn)。預(yù)處理?xiàng)l件按GB/T13542.2-2009

中3.2要求進(jìn)行。

6.6使用單位有要求時(shí),制造廠應(yīng)提供產(chǎn)品檢驗(yàn)報(bào)告。

7標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸和貯存

7.1薄膜卷要用防潮紙或塑料薄膜包裹,外層套裝塑料袋,并架空支撐放置于包裝箱中,使薄膜在通常

的貯存和運(yùn)輸條件下得到充分保護(hù)而不受損壞和變質(zhì)。

7.2每箱薄膜應(yīng)有明顯而牢固的標(biāo)志:

TVS瞬間抑制防護(hù)技術(shù)

●  多級(jí)循環(huán)電壓采集技術(shù):

材料擊穿后,瞬間放電速度約為光速的1/5~1/3,國際通用的方法為壓降法進(jìn)行采集擊穿電壓。即變壓器的初級(jí)電壓瞬間下降一定比率來判別材料是否擊穿。顯然記錄擊穿電壓值產(chǎn)生偏差。而采用多級(jí)循環(huán)采集技術(shù)對(duì)擊穿后的電壓采集將解決此難題。

●  低通濾波電流監(jiān)測技術(shù):

高壓壓放電過程中將產(chǎn)生高頻信號(hào)。而無論是國產(chǎn)與進(jìn)口電流采集傳感器,大都為工頻電流傳感器。而采集過程中無法將高頻信號(hào)處理時(shí),從而造成檢測不準(zhǔn)確。無論是采用磁通門或霍爾原理所設(shè)計(jì)的傳感器存在擊穿后瞬間輸出電壓或電流信號(hào)過大,從而燒壞控制系統(tǒng)的采集部分。華測開發(fā)的低濾波電流采集傳感器將高頻雜波信號(hào)進(jìn)行相應(yīng)處理。同流采集華測自主開發(fā)的保護(hù)模塊來保證采集精度與保護(hù)采集元件。

●  雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)及隔離屏蔽技術(shù):

采用雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)應(yīng)用于電擊穿儀器,生產(chǎn)的電壓擊穿儀器不僅具備過壓、過流保護(hù)系統(tǒng),它*的雙系統(tǒng)互鎖機(jī)制,當(dāng)任何元器件出現(xiàn)問題或單系統(tǒng)出現(xiàn)故障時(shí),將瞬間切斷高壓。

品名稱：電壓擊穿試驗(yàn)儀

產(chǎn)品型號(hào)：BDJC-10KV、BDJC-50KV、BJC-100KV

產(chǎn)品品牌：北京北廣精儀

控制方式：計(jì)算機(jī)控制

符合標(biāo)準(zhǔn)：GB/T1408、ASTM D149、IEC60243-1等

適用材料：橡膠、塑料、薄膜、陶瓷、玻璃、漆膜、樹脂、電線電纜、絕緣油等絕緣材料

測試項(xiàng)目：擊穿電壓測試、介電強(qiáng)度測試、電氣強(qiáng)度測試、耐電壓擊穿強(qiáng)度測試等

試驗(yàn)電壓：10KV、20KV、50KV、100KV、150KV等

電壓精度：≤1%

適用材料：絕緣材料

升壓速率：10V/S-5KV/S

試驗(yàn)方式：交流/直流、耐壓、擊穿、梯度升壓

控制系統(tǒng)：PLC控制升壓

核心部件：采用進(jìn)口配件

試驗(yàn)介質(zhì)：絕緣油、空氣

顯示方式：曲線顯示、數(shù)據(jù)打印

其它特點(diǎn)：無線藍(lán)牙控制

設(shè)備組成：主機(jī)、計(jì)算機(jī)、電極

電極規(guī)格：25mm、75mm、6mm

電器容量：3KVA、5KVA、10KVA

耐壓時(shí)間：0-8H

安全保護(hù)：九級(jí)安全保護(hù)

質(zhì)保日期：三年、終身維護(hù)。